Počet záznamů: 1

Kryo-stolek a antikontaminátor pro FIB-SEM

SYSNO	0566637
Název	Kryo-stolek a antikontaminátor pro FIB-SEM
Překlad názvu	Cryo-stage and anti-contaminator for FIB-SEM
Tvůrce(i)	Láznička, Tomáš (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI} Krutil, Vojtěch (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Hrubanová, Kamila (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Vyd. údaje	2022
Poddruh	Funkční vzorek
Int.kód	APL-2022-24
Technické parametry	Kryo-stolek umožňující uchycení komerčního držáku vzorku je k posuvnému mechanismu mikroskopu připevněn pomocí centrovacích kolíků a jednoho šroubu uprostřed stolku. Otvor pro hlavičku šroubu je průchozí skrz držák, takže není nutné rozebírat celý stolek. Část stolku, do které se upevňuje držák vzorku je připevněna ke spodní podložce pomocí čtyř sloupků Antikontaminační štít vzorku je připevněn ke spodní podložce dvěma podobnými, delšími sloupky. Antikontaminační štít může být pomocí chladovodu připojen zjednodušenou cestou buď k velkému antikontaminačnímu štítu ze zadní strany nebo přímo na palec (k držáku nebo chladovodu vedoucí od palce) chladící Dewarovy nádoby. Součástí systému je měřič teploty připojený k pravé části, z levé části je připojen ohřívač, kterým můžeme regulovat teplotu vzorku. Systém je schopen dosáhnout teoretické teploty 81 K. Posuvný mechanismus i se stolkem mikroskopu je schopný náklonu do 52°, který slouží pro náklon vzorku ve směru k iontovému svazku pro kolmé obrábění svazkem k povrchu vzorku.
Ekonomické parametry	Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Kamila Hrubanová, Ph.D., hrubanova@isibrno.cz.
Název vlastníka	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Číselná identifikace	APL-2022-24
Druh dok.	Prototyp, metodika, f.vzorek, aut.software, apl.výzkum-normy, u.vzor
Grant	TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	cze
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	Cryo-SEM * electron microscopy * FIB-SEM
Trvalý link	https://hdl.handle.net/11104/0337951

Počet záznamů: 1