Počet záznamů: 1
A brief overview of the studies on the irreversible breakdown of LGAD testing samples irradiated at the critical LHC-HL fluences
- 1.
SYSNO ASEP 0566384 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název A brief overview of the studies on the irreversible breakdown of LGAD testing samples irradiated at the critical LHC-HL fluences Tvůrce(i) Laštovička-Medin, G. (ME)
Kramberger, G. (SI)
Rebarz, Mateusz (FZU-D) ORCID
Andreasson, Jakob (FZU-D) ORCID
Kropielnicki, Kamil (FZU-D) ORCID
Laštovička, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Kroll, Jiří (FZU-D) ORCIDCelkový počet autorů 7 Číslo článku C07020 Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 1748-0221
Roč. 17, č. 7 (2022)Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova charge induction ; radiation-hard detectors ; solid state detectors ; timing detectors Vědní obor RIV BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech Obor OECD Fluids and plasma physics (including surface physics) CEP LM2018141 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy EF16_019/0000789 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy EF15_003/0000447 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000933446100020 EID SCOPUS 85135223849 DOI 10.1088/1748-0221/17/07/C07020 Anotace LGAD sensors will be employed in the CMS MTD and ATLAS HGTD upgrades to mitigate the high levels of pile-up expected in the High Luminosity phase of the LHC. Over the last several years, much attention has been focused on designing radiation tolerant gain implants to ensure that these sensors survive the expected fluences, (more than 1–2 × 1015 neq/cm2). However, in test beams with protons and a fs-laser, highly irradiated LGADs operated at a high voltage, have been seen to exhibit violent burn-out events that render the sensors inoperable. This paper will focus on the critical electric field and accordingly the bias thresholds to mitigate the risk of Single Event Burnout (SEB). Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2023 Elektronická adresa https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/07/C07020
Počet záznamů: 1