Počet záznamů: 1  

Possibilities of laser recrystallization and laser ablation in thin-layer structures based on a-Si:H

  1. 1.
    SYSNO ASEP0540759
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVO - Ostatní
    NázevPossibilities of laser recrystallization and laser ablation in thin-layer structures based on a-Si:H
    Tvůrce(i) Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
    Stuchlíková, The-Ha (FZU-D) RID, ORCID
    Fajgar, Radek (UCHP-M) RID, ORCID, SAI
    Kupčík, Jaroslav (FZU-D) ORCID
    Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
    Celkový počet autorů5
    Zdroj.dok.Online, 2020
    Poč.str.22 s.
    Akce4th BIATRI Workshop
    Datum konání09.12.2020 - 10.12.2020
    Místo konáníOnline
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaCVD ; thin films ; a-Si:H ; nanoparticles
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Vědní obor RIV – spolupráceÚstav chemických procesů - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPLM2018110 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GC19-02858J GA ČR - Grantová agentura ČR
    EF16_019/0000760 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271 ; UCHP-M - RVO:67985858
    AnotaceOur goal is to enhance optoelectronic properties and light conversion efficiency in hydrogenated silicon thin films by in-situ embedded nanoparticles using radio frequency chemical vapor deposition (RF CVD) combined with other methods such as molecular beam epitaxy, magnetron sputtering, Langmuir/Blodgett method, reactive deposition epitaxy, laser surface treatment, laser ablation, reactive laser ablation, vacuum evaporation and plasma treatment.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2021
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.