Počet záznamů: 1
Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM
- 1.
SYSNO 0481591 Název Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM Tvůrce(i) Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Polčák, J. (CZ)
Paták, Aleš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Lejeune, M. (FR)Zdroj.dok. 13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. S. 618-619. - Zagreb : Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 / Gajović A. ; Weber I. ; Kovačević G. ; Čadež V. ; Šegota S. ; Peharec Štefanić P. ; Vidoš A. Konference Multinational Congress on Microscopy /13./, 24.09.2017 - 29.09.2017, Rovinj Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. HR Klíč.slova low voltage SEM/STEM * 2D crystals * contamination Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0277164
Počet záznamů: 1