Počet záznamů: 1
Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM
SYS 0481591 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103214953.2 017 $2 DOI 100 $a 20171120d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a HR 200 1-
$a Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0479159 $1 010 $a 978-953-7941-19-2 $1 200 1 $a 13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts $v S. 618-619 $1 210 $a Zagreb $c Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society $d 2017 $1 702 1 $a Gajović $b A. $4 340 $1 702 1 $4 340 $a Weber $b I. $1 702 1 $4 340 $a Kovačević $b G. $1 702 1 $4 340 $a Čadež $b V. $1 702 1 $4 340 $a Šegota $b S. $1 702 1 $4 340 $a Peharec Štefanić $b P. $1 702 1 $4 340 $a Vidoš $b A. 610 $a low voltage SEM/STEM 610 $a 2D crystals 610 $a contamination 700 -1
$3 cav_un_auth*0258032 $a Mikmeková $b Eliška $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0266418 $a Polčák $b J. $y CZ 701 -1
$3 cav_un_auth*0287130 $a Paták $b Aleš $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0293277 $a Lejeune $b M. $y FR
Počet záznamů: 1