Počet záznamů: 1
Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM
- 1.Mikmeková, E., Frank, L., Polčák, J., Paták, A., Lejeune, M. Examination of 2D crystals in a low voltage SEM/STEM. In: GAJOVIĆ, A., WEBER, I., KOVAČEVIĆ, G., ČADEŽ, V., ŠEGOTA, S., PEHAREC ŠTEFANIĆ, P., VIDOŠ, A., eds. 13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017, s. 618-619. ISBN 978-953-7941-19-2.
Počet záznamů: 1