Počet záznamů: 1
Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions
- 1.
SYSNO 0464368 Název Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions Tvůrce(i) Lorinčík, Jan (URE-Y)
Veselá, D. (CZ)
Vytykáčová, S. (CZ)
Švecová, B. (CZ)
Nekvindová, P. (CZ)
Macková, Anna (UJF-V) [ONF] RID, ORCID, SAI
Mikšová, Romana (UJF-V) [ONF] RID, ORCID, SAI
Malinský, Petr (UJF-V) [ONF] RID, ORCID, SAI
Boettger, R. (DE)Zdroj.dok. Journal of Vacuum Science & Technology B. Roč. 34, č. 3 (2016). - : American Institute of Physics Číslo článku 03H129 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA15-01602S GA ČR - Grantová agentura ČR LM2011019 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora URE-Y - RVO:67985882 ; UJF-V - RVO:61389005 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova Nanoparticles * Spectroscopy * Backscattering Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0263496 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup UFE 0464368.pdf 3 1 MB Jiná vyžádat
Počet záznamů: 1