Počet záznamů: 1
Far infrared and Raman response in tetragonal PZT ceramic films
- 1.
SYSNO ASEP 0454637 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Far infrared and Raman response in tetragonal PZT ceramic films Tvůrce(i) Buixaderas, Elena (FZU-D) RID, ORCID
Kadlec, Christelle (FZU-D) RID, ORCID
Vaněk, Přemysl (FZU-D) RID, ORCID
Drnovšek, S. (SI)
Uršič, H. (SI)
Malič, B. (SI)Zdroj.dok. Boletin de la Sociedad Espanola de Ceramica y Vidrio. - : Elsevier - ISSN 0366-3175
Roč. 54, č. 6 (2015), s. 219-224Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. ES - Španělsko Klíč. slova dielectric response ; phonons ; FIR spectroscopy ; time-domain THz spectroscopy ; Raman spectroscopy ; effective medium ; PZT Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA14-25639S GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000366666700001 EID SCOPUS 84949568671 DOI 10.1016/j.bsecv.2015.11.003 Anotace PbZr0.38Ti0.62O3 and PbZr0.36Ti0.64O3 thick films deposited by screen printing on (0001) single crystal sapphire substrates and prepared at two different sintering temperatures, were studied by Fourier-transform infrared reflectivity, time-domain THz transmission spectroscopy and micro-Raman spectroscopy. The dielectric response is discussed using the Lichtenecker model to account for the porosity of the films and to obtain the dense bulk dielectric functions. Results are compared with bulk tetragonal PZT 42/58 ceramics. The dynamic response in the films is dominated by an overdamped lead-based vibration in the THz range, as known in PZT, but its evaluated dielectric contribution is affected by the porosity and roughness of the surface. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2016
Počet záznamů: 1