Počet záznamů: 1
Charge exchange between low energy Si ions and Cs adatoms
- 1.Chen, X. - Šroubek, Zdeněk - Yarmoff, J. A.
Charge exchange between low energy Si ions and Cs adatoms.
Surface Science. Roč. 602, č. 2 (2008), s. 620-629. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Impakt faktor: 1.731, rok: 2008
http://hdl.handle.net/11104/0196828
Počet záznamů: 1