Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0353106
Druh ASEP	K - Konferenční příspěvek (lokální konf.)
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Název	Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy
Tvůrce(i)	Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Hovorka, Miloš (UPT-D) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Man, O. (CZ) Pantělejev, L. (CZ) Kouřil, M. (CZ)
Celkový počet autorů	7
Zdroj.dok.	Mikroskopie 2010. - Nové Město na Moravě : Československá mikroskopická společnost, 2010 / Frank L. ; Hozák P. - ISBN N S. 20
Poč.str.	1 s.
Akce	Mikroskopie 2010
Datum konání	17.02.2010-18.02.2010
Místo konání	Nové Město na Moravě
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	EUR
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	SEM ; SLEEM ; UFG
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Anotace	Detection of a strain in the microscopic scale is very important under multiple circumstances.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2011

Počet záznamů: 1