Počet záznamů: 1
Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM
- 1.
SYSNO 0308431 Název Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM Překlad názvu Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM Tvůrce(i) Hovorka, Miloš (UPT-D)
Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Mikroskopie 2008. S. 21. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2008 / Frank Luděk Konference Mikroskopie 2008, Nové Město na Moravě, 07.02.2008-08.02.2008 Druh dok. Konferenční příspěvek (tuzemská konf.) CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova dopants * PEEM * SEM * silicon Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0160916
Počet záznamů: 1