Počet záznamů: 1  

Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM

  1. 1.
    SYSNO0308431
    NázevMožnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM
    Překlad názvuImaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM
    Tvůrce(i) Hovorka, Miloš (UPT-D)
    Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok. Mikroskopie 2008. S. 21. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2008 / Frank Luděk
    Konference Mikroskopie 2008, Nové Město na Moravě, 07.02.2008-08.02.2008
    Druh dok.Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    Jazyk dok.cze
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova dopants * PEEM * SEM * silicon
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0160916
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.