Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0308431
Druh ASEP	K - Konferenční příspěvek (lokální konf.)
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Název	Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM
Překlad názvu	Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM
Tvůrce(i)	Hovorka, Miloš (UPT-D) Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Mikroskopie 2008. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2008 / Frank Luděk - ISBN N S. 21
Poč.str.	1 s.
Akce	Mikroskopie 2008
Datum konání	07.02.2008-08.02.2008
Místo konání	Nové Město na Moravě
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	EUR
Jazyk dok.	cze - čeština
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	dopants ; PEEM ; SEM ; silicon
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Anotace	Studium dotovaných křemíkových struktur s využitím fotoemisní mikroskopie a nízkonapěťové rastrovací elektronové mikroskopie.
Překlad anotace	Study of doped silicon structures using photoemission electron microscopy and low-voltage scanning electron microscopy.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2008

Počet záznamů: 1