Measurements of the secondary and backscattered electron coefficients in the energy range 250-5000eV
1.
SYSNO ASEP
0204995
Druh ASEP
C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV
D - Článek ve sborníku
Název
Measurements of the secondary and backscattered electron coefficients in the energy range 250-5000eV
Tvůrce(i)
Zadražil, Martin (UPT-D) El Gomati, M. M. (GB)
Zdroj.dok.
Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy, General Interest and Instrumentation. / Benavides H. A. C. ; Yacamán M. J.. - Bristol : Institute of Physics Publishing Ltd., 1998
- ISBN 0-7503-0568-1
Rozsah stran
s. 495-496
Poč.str.
2 s.
Akce
ICEM /14./ - International Congress on Electron Microscopy
Datum konání
31.08.1998-04.09.1998
Místo konání
Cancun
Země
MX - Mexiko
Jazyk dok.
eng - angličtina
Země vyd.
MX - Mexiko
Vědní obor RIV
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Pracoviště
Ústav přístrojové techniky
Kontakt
Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru
1999
Počet záznamů: 1
Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom
jak používáme cookies.