Počet záznamů: 1  

Recent challenges in micromachining of wide-bandgap materials and fabrication of MEMS for harsh environments

  1. 1.
    SYSNO ASEP0559035
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevRecent challenges in micromachining of wide-bandgap materials and fabrication of MEMS for harsh environments
    Tvůrce(i) Zehetner, J. (AT)
    Vanko, G. (SK)
    Dohnal, F. (AT)
    Izsák, T. (SK)
    Držík, M. (SK)
    Kromka, Alexander (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů6
    Zdroj.dok.Proceedings of ADEPT - ADEPT 2022. - Žilina : University of Žilina, 2022 / Feiler M. ; Ziman M. ; Kováčová S. ; Kováč, jr. J. - ISBN 978-80-554-1884-1
    Rozsah strans. 7-12
    Poč.str.5 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Akce10th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies - ADEPT 2022
    Datum konání20.06.2022 - 24.06.2022
    Místo konáníTatranská Lomnica
    ZeměSK - Slovensko
    Typ akceEUR
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.SK - Slovensko
    Klíč. slovaharsh environment ; diamond ; SiC ; MEMS ; HEMT ; laser ablation
    Vědní obor RIVJB - Senzory, čidla, měření a regulace
    Obor OECDMaterials engineering
    CEP8X20035 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    AnotaceThe properties of SiC and diamond make them attractive materials for MEMS and sensor devices. We innovated specific laser ablation techniques to fabricate membranes and cantilevers made of SiC or nano-(micro-) crystalline diamond films grown on Si/SiO2 substrates by microwave chemical vapour deposition (MWCVD). We started research to generate surface moulds to grow corrugated diamond films for membranes and cantilevers. A software tool was developed to support the design of micromechanical cantilevers. We can measure deformation and resonant frequency of diamond cantilevers and identify the global mechanical properties. A benchmark against finite element simulations enables an inverse identification of the specific system parameters and simplifies the characterization procedure.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2023
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.