Počet záznamů: 1
2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM
- 1.
SYSNO ASEP 0550700 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Poddruh RIV Funkční vzorek Název 2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM Překlad názvu 2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM Tvůrce(i) Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Sýkora, Jiří (UPT-D)
Piňos, Jakub (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAIRok vydání 2021 Int.kód APL-2021-09 Technické parametry Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software. Ekonomické parametry Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz. Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. IČ vlastníka 68081731 Kat.výsl.dle nákl. A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč Požad. na licenč. popl. Z - Poskytovatel licence nepožaduje v některých případech licenční poplatek Číselná identifikace APL-2021-09 Jazyk dok. cze - čeština Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova pixelated detector ; scanning ; low energy electron microscopy ; reflected electrons Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Funkční vzorek byl navržen a vyroben pro ultravysokovakuový rastrovací nízkoenergiový elektronový mikroskop, který pracuje v energiovém rozsahu od 5 keV až do jednotek eV. Zejména při nízkých energiích dopadu jsou signální elektrony kolimovány k optické ose a vstupují do objektivové čočky. Mikroskop je vybaven mimoosovým detekčním systémem, který pomocí projekčního tubusu umožňuje zformovat svazek odražených signálních elektronů a jeho zvětšenou stopu promítnout do detekční roviny pixelového detektoru. Pixelový detektor umožňuje studium úhlového rozložení signálních elektronů. Překlad anotace Functional sample was designed and assembled for an ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope that operates in the energy range from 5 keV to eV units. Especially at low landing energies, the signal electrons are collimated to the optical axis and enter the objective lens. The microscope is equipped with an off-axis detection system, which uses a projection column to form a beam of reflected signal electrons and project its enlarged spot into the detection plane of the pixelated detector. The pixelated detector enables the study of the angular distribution of signal electrons. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2022
Počet záznamů: 1