The information depth of backscattered electron imaging

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0460208
Název	The information depth of backscattered electron imaging
Tvůrce(i)	Piňos, Jakub (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. S. 46-47. - Brno : Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 / Mika Filip
Konference	International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, 29.05.2016 - 03.06.2016, Skalský dvůr
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	electron microscopy * SEM * BSE
URL	http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0260340

Počet záznamů: 1