Počet záznamů: 1  

Short-range six-axis interferometer controlled positioning for local probe microscopy

  1. 1.
    SYSNO ASEP0422393
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    Zařazení RIVNení vybrán druh dokumentu
    NázevShort-range six-axis interferometer controlled positioning for local probe microscopy
    Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Buchta, Zdeněk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Oulehla, Jindřich (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů6
    Zdroj.dok.21th annual International Conference on Advanced Laser Technologies ALT´13. Book of Abstracts. - Budva : University of Montenegro, 2013
    Poč.str.1 s.
    Forma vydáníOnline - E
    AkceALT´13. Annual International Conference on Advanced Laser Technologies /21./
    Datum konání16.09.2013-20.09.2013
    Místo konáníBudva
    ZeměME - Černá Hora
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.ME - Černá Hora
    Klíč. slovaSIX-AXIS interferometer ; local probe microscopy
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    CEPGPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR
    ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    EE2.4.31.0016 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    AnotaceWe present a design of nanometrology measuring setup is part of a design of the national standard for nanometrology to be operated by the Czech Metrology Institute (CMI) in Brno, Czech Republic. The system uses a full six-axis interferometric measurement of the position of the sample holder with six independent interferometers. The concept of nanometrology system combining local probe microscopy and interferometric measuring and controlled positioning presented here represents one of a variety of possible approaches. A small range system based on a commercial nanopositioning stage driven by piezoelectric transducers with the overall range 200×200×10 μm was used. Due to the geometric configuration with a wide basis of the two units measuring in y-direction and the three measuring in z-direction the angle resolution of the whole setup goes down to tens of nanoradians and servo control of in all six axes of freedom allows to keep guidance errors below 100 nrad. Thermally compensated miniature interferometric units with fiber-optic light delivery and integrated homodyne detection system were developed especially for this system.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2014
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.