Počet záznamů: 1
Interferometric system with tracking refractometry capability in the measuring axis
- 1.
SYSNO ASEP 0399809 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Interferometric system with tracking refractometry capability in the measuring axis Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Holá, Miroslava (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Oulehla, Jindřich (UPT-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Measurement Science and Technology. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 0957-0233
Roč. 24, č. 6 (2013), 067001:1-6Poč.str. 6 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova refractometry ; nanopositioning ; interferometry ; nanometrology Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 UT WOS 000319267900029 EID SCOPUS 84878219415 DOI 10.1088/0957-0233/24/6/067001 Anotace We present a combined interferometric arrangement designed for measurement of one-axis displacement over a specified measuring range with mechanical referencing. This concept allows simultaneous measurement of the carriage position from both sides together with monitoring of the overall range. This can be used in configuration with in-line monitoring of the fluctuations of the refractive index-tracking refractometry. Similarly, the wavelength of the laser source can be stabilized over the measuring range, effectively compensating for the refractive index changes. Otherwise, monitoring of length of the measuring range can give information about the thermal dilatation effects of frame of the whole measuring setup. This technique can find its way into high-precision positioning systems in nanometrology Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1