Počet záznamů: 1
Overview of SEM developments and potential
- 1.
SYSNO ASEP 0387264 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Overview of SEM developments and potential Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. EMC 2012. Proceedings of the 15th European Microscopy Congress, vol. 2 - Physical Sciences: Tools and Techniques. - Manchester : The Royal Microscopical Society, 2012 - ISBN 978-0-9502463-6-9 Rozsah stran s. 121-122 Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce EMC 2012. European Microscopy Congress /15./ Datum konání 16.09.2012-21.09.2012 Místo konání Manchester Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova low energy SEM ; multichannel SEM ; STEM in SEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Scanning electron microscopy has experienced a certain decline in attention paid by instrumentation scientists and developers; however, since about decade ago we have seen a regeneration of interest. Central efforts in SEM developments have moved from illumination problems to detection principles and assemblies and to the interpretation of images. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2013
Počet záznamů: 1