Počet záznamů: 1
Characterization of RF-spittered self-polarized PZT thin films for sensors arrays
- 1.
SYSNO ASEP 0134011 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Characterization of RF-spittered self-polarized PZT thin films for sensors arrays Tvůrce(i) Suchaneck, G. (DE)
Lin, W. M. (DE)
Koehler, R. (DE)
Sandner, T. (DE)
Gerlach, G. (DE)
Krawietz, R. (DE)
Pompe, W. (DE)
Deineka, Alexander (FZU-D)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Vacuum. - : Elsevier - ISSN 0042-207X
Roč. 66, - (2002), s. 473-478Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova self-polarized PZT ; polarization and refractive index profiles ; IR sensor array Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Anotace In this work, a complex investigation of film composition, microstructure and physical properties of RF-sputtered self-polarized PZT thin filůms for IR sensor arrays was carried out. IR-radiation detector detectivity and noise equivalent temperature difference were calculated. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2003
Počet záznamů: 1