Počet záznamů: 1  

Characterization of RF-spittered self-polarized PZT thin films for sensors arrays

  1. 1.
    SYSNO ASEP0134011
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JOstatní články
    NázevCharacterization of RF-spittered self-polarized PZT thin films for sensors arrays
    Tvůrce(i) Suchaneck, G. (DE)
    Lin, W. M. (DE)
    Koehler, R. (DE)
    Sandner, T. (DE)
    Gerlach, G. (DE)
    Krawietz, R. (DE)
    Pompe, W. (DE)
    Deineka, Alexander (FZU-D)
    Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
    Zdroj.dok.Vacuum. - : Elsevier - ISSN 0042-207X
    Roč. 66, - (2002), s. 473-478
    Poč.str.6 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovaself-polarized PZT ; polarization and refractive index profiles ; IR sensor array
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPLN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z1010914 - FZU-D
    AnotaceIn this work, a complex investigation of film composition, microstructure and physical properties of RF-sputtered self-polarized PZT thin filůms for IR sensor arrays was carried out. IR-radiation detector detectivity and noise equivalent temperature difference were calculated.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2003

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.