Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0109114
Název	Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů
Překlad názvu	Quantitative Study of Dopant Distribution in a Semiconductor Using Secondary Electron Emission
Tvůrce(i)	Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	PDS 2003 - Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004. s. 39 - 42. - Brno : Ústav přístrojové techniky, 2004 / Müllerová I.
Konference	PDS 2003 Seminář doktorandů oboru Elektronová optika, Brno, 30.01.2004
Druh dok.	Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Grant	KJB2065301 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z2065902 - UPT-D
Jazyk dok.	cze
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	Secondary Electron Emission * Dopant Distribution * Semiconductors
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0016226

Počet záznamů: 1