Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0109114
Druh ASEP	K - Konferenční příspěvek (lokální konf.)
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Název	Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů
Překlad názvu	Quantitative Study of Dopant Distribution in a Semiconductor Using Secondary Electron Emission
Tvůrce(i)	Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	PDS 2003 - Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004. - Brno : Ústav přístrojové techniky, 2004 / Müllerová I. - ISBN 80-239-2268-8 s. 39 - 42
Poč.str.	4 s.
Akce	PDS 2003 Seminář doktorandů oboru Elektronová optika
Datum konání	30.01.2004
Místo konání	Brno
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	CST
Jazyk dok.	cze - čeština
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	Secondary Electron Emission ; Dopant Distribution ; Semiconductors
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	KJB2065301 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z2065902 - UPT-D
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2005

Počet záznamů: 1