Scanning Low Energy Electron Microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0050901
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Scanning Low Energy Electron Microscopy
Překlad názvu	Rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). - Sapporo : Japanese Society of Microscopy, 2006
Rozsah stran	s. 651
Poč.str.	1 s.
Akce	IMC16 - International Microscopy Congress /16./
Datum konání	03.09.2006-08.09.2006
Místo konání	Sapporo
Země	JP - Japonsko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	JP - Japonsko
Klíč. slova	scanning electron microscopy ; cathode lens mode ; very low energies
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	GA102/05/2327 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Anotace	Principles, electron-optical characteristics, implementation approaches, experimentally verified parameters, and main application areas of the scanning low energy electron microscopy method, together with inherent, in a standard SEM not available contrast mechanisms are presented.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2007

Počet záznamů: 1