Počet záznamů: 1

Držáky pro manipulaci s optickými prvky

SYSNO ASEP	0580360
Druh ASEP	L - Prototyp, funkční vzorek
Zařazení RIV	G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
Poddruh RIV	Funkční vzorek
Název	Držáky pro manipulaci s optickými prvky
Překlad názvu	Holders for the optical elements manipulation
Tvůrce(i)	Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI} Sýkora, Jiří (UPT-D) Piňos, Jakub (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Rok vydání	2023
Int.kód	APL-2023-09
Technické parametry	Držák vzorku se skládá z podložky, na kterou se vzorek umísťuje, dále měděné čepičky na přichycení vzorku a keramického pouzdra.
Ekonomické parametry	Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu slouží k výzkumným účelům příjemce, Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Funkční vzorek byl realizován pro konkrétní zařízení, a proto nedochází k přímému prodeji vzorku. Finanční vyčíslení případné prodejní ceny vychází z nákladů na vývoj, materiál, výrobu a přiměřený zisk. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, PhD., MBA, eliska@isibrno.cz.
Název vlastníka	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
IČ vlastníka	68081731
Kat.výsl.dle nákl.	A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč
Požad. na licenč. popl.	N - Poskytovatel licence nepožaduje licenční poplatek
Jazyk dok.	cze - čeština
Země vlastníka	CZ - Česká republika
Klíč. slova	sample holder ; manipulation ; SEM
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Obor OECD	Electrical and electronic engineering
CEP	TN02000020 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Držák vzorku se skládá z podložky, na kterou se vzorek umísťuje, dále měděné čepičky na přichycení vzorku a keramického pouzdra. Systém slouží na pozorování částí optických elementů po úpravě, nanesení hutné a vodivé vrstvy, což vede k vylepšení parametru svazku v elektronovém mikroskopu. Cílem je vzorek umístit na držák, který lze vložit do ultra vysoko vakuového mikroskopu, kde se optické elementy testují (pozorování struktury, prvková analýza, teplotní stabilita, desorpce uhlovodíků).
Překlad anotace	The sample holder consists of a substrate on which the sample is placed, a copper cap for attaching the sample and a ceramic capsule. The system is used to observe parts of the optical elements after treatment, depositing a dense and conductive layer, which leads to an improvement of the beam parameter in the electron microscope. The aim is to place the sample on a holder that can be inserted into an ultra-high vacuum (UHV) microscope where the optical elements are tested (structure observation, elemental analysis, thermal stability, hydrocarbon desorption).
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2024

Počet záznamů: 1