Počet záznamů: 1  

Defect-mediated energy transfer in ZnO thin films doped with rare-earth ions

  1. 1.
    SYSNO ASEP0566236
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevDefect-mediated energy transfer in ZnO thin films doped with rare-earth ions
    Tvůrce(i) Yatskiv, Roman (URE-Y) RID, ORCID
    Grym, Jan (URE-Y)
    Bašinová, Nikola (URE-Y)
    Kučerová, Šárka (URE-Y)
    Vaniš, Jan (URE-Y) RID
    Piliai, L. (CZ)
    Vorokhta, M. (CZ)
    Veselý, J. (CZ)
    Maixner, J. (CZ)
    Celkový počet autorů9
    Číslo článku119462
    Zdroj.dok.Journal of Luminescence. - : Elsevier - ISSN 0022-2313
    Roč. 253, JAN 2023 (2023)
    Poč.str.7 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaEnergy transfer ; Luminescence ; Nanoparticles
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    CEPGA20-24366S GA ČR - Grantová agentura ČR
    GA20-24366S GA ČR - Grantová agentura ČR
    8X20053 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaURE-Y - RVO:67985882
    UT WOS000883797600002
    EID SCOPUS85140969966
    DOI10.1016/j.jlumin.2022.119462
    AnotaceThe rare-earth (RE) (Eu, Er, Nd) doped ZnO thin films were fabricated by a cost-effective chemical solution deposition method. The emission properties of ZnO:RE films were investigated under different excitation conditions, where the RE ions were excited either through direct pumping into the 4f energy levels of RE ions or through indirect excitation by energy transfer from the host material. It is demonstrated that under both excitation methods, the films showed strong emission from the RE ions at room temperature, which confirms the hypothesis that the RE ions can be effectively excited by the host material. Moreover, the influence of RE doping on the development of the crystalline structure of the ZnO thin film was studied. Only a small amount of REs was incorporated into the ZnO grains, most of the REs remained segregated at the grain boundaries, forming a thin oxide shell that strongly suppresses the sintering of the grains and reduces their size.
    PracovištěÚstav fotoniky a elektroniky
    KontaktPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Rok sběru2024
    Elektronická adresa10.1016/j.jlumin.2022.119462
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.