Počet záznamů: 1
Radiation-induced phase separation in nanostructured Hf-In-C ternary thin films under irradiation with 200 keV Ar.sup.+./sup. ion beam
- 1.
SYSNO ASEP 0562898 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Radiation-induced phase separation in nanostructured Hf-In-C ternary thin films under irradiation with 200 keV Ar+ ion beam Tvůrce(i) Vacík, J. (CZ)
Cannavó, A. (CZ)
Bakardjieva, S. (CZ)
Kupčík, Jaroslav (FZU-D) ORCID
Lavrentiev, V. (CZ)
Ceccio, G. (CZ)
Horák, P. (CZ)
Němeček, J. (CZ)
Verna, A. (IT)
Parmeggiani, M. (IT)
Calcagno, L. (IT)
Klie, R. (US)
Duchoň, Jan (FZU-D) ORCID, RIDCelkový počet autorů 13 Zdroj.dok. Radiation Effects and Defects in Solids. - : Taylor & Francis - ISSN 1042-0150
Roč. 177, 1-2 (2022), s. 137-160Poč.str. 24 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova ion beam synthesis ; Hf-In-C nanocomposite ; Hf2InC MAX phase ; HfC0.95 phase ; radiation tolerance Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) CEP LM2018110 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000770467000001 EID SCOPUS 85126828743 DOI 10.1080/10420150.2022.2049788 Anotace After fabrication the Hf-In-C nanostructures a part of the pristine (as deposited) samplex was irradiated by 200 KeV Ar.+. ions at high fluences 10.15. and 10.17. cm.-2.. Both samples (as prepared and irradiated)were analyzed by IBA nuclear analytical methods, as well as by AFM and TEM microscopic techniques, and by XPS and profilometry to understand the microstructural evolution. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2023 Elektronická adresa https://doi.org/10.1080/10420150.2022.2049788
Počet záznamů: 1