Počet záznamů: 1
Microstructured layered targets for improved laser-induced x-ray backlighters
- 1.
SYSNO ASEP 0561940 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Microstructured layered targets for improved laser-induced x-ray backlighters Tvůrce(i) Sander, S. (DE)
Ebert, A. (DE)
Hartnagel, D. (DE)
Hesse, M. (DE)
Pan, X. (DE)
Schaumann, G. (DE)
Šmíd, M. (DE)
Falk, Kateřina (FZU-D) ORCID
Roth, M. (DE)Celkový počet autorů 9 Číslo článku 065207 Zdroj.dok. Physical Review E. - : American Physical Society - ISSN 2470-0045
Roč. 104, č. 6 (2021)Poč.str. 8 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova X-ray back-lighter ; PHELIX laser ; silicon front target layer ; copper back target layer Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery Obor OECD Fluids and plasma physics (including surface physics) Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000737308300001 EID SCOPUS 85122368312 DOI 10.1103/PhysRevE.104.065207 Anotace We present the usage of two-layer targets with laser-illuminated front-side microstructures for x-ray backlighter applications. The targets consisted of a silicon front layer and copper back side layer. The structured layer was irradiated by the 500-fs PHELIX laser with an intensity above 1020 W cm−2. The total emission andone-dimensional extent of the copper Kα x-ray emission as well as a wide spectral range between 7.9 and 9.0 keV were recorded with an array of crystal spectrometers. The measurements show that the front-side modifications of the silicon in the form of conical microstructures maintain the same peak brightness of the Kα emission as flat copper foils while suppressing the thermal emission background significantly.
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2023 Elektronická adresa https://doi.org/ 10.1103/PhysRevE.104.065207
Počet záznamů: 1