Počet záznamů: 1  

Residual stress determination by the layer removal and X-ray diffraction measurement correction method

    1.
    Dlhý, P., Poduška, J., Pokorný, P., Jambor, M., Náhlík, L., Hutař, P. Residual stress determination by the layer removal and X-ray diffraction measurement correction method. MethodsX. 2022, 9(neuvedeno), 101768. E-ISSN 2215-0161. Dostupné z: doi: 10.1016/j.mex.2022.101768.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše