Počet záznamů: 1  

Growth and properties of diamond films prepared on 4-inch substrates by cavity plasma systems

  1. 1.
    SYSNO ASEP0542446
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevGrowth and properties of diamond films prepared on 4-inch substrates by cavity plasma systems
    Tvůrce(i) Babčenko, Oleg (FZU-D) ORCID
    Potocký, Štěpán (FZU-D) RID, ORCID
    Aubrechtová Dragounová, Kateřina (FZU-D) ORCID
    Szabó, Ondrej (FZU-D) ORCID, RID
    Bergonzo, P. (US)
    Rezek, B. (CZ)
    Kromka, Alexander (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů7
    Zdroj.dok.Proceedings 12th International Conference on Nanomaterials - Research & Application - Nanocon 2020. - Ostrava : Tanger Ltd., 2021 - ISSN 2694-930X - ISBN 978-80-87294-98-7
    Rozsah strans. 86-92
    Poč.str.7 s.
    Forma vydáníOnline - E
    AkceInternational Conference NANOCON 2020 /12./
    Datum konání21.10.2020 - 23.10.2020
    Místo konáníBrno
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovalarge area diamond ; microwave cavity plasma ; high-power density plasma
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCoating and films
    CEPEF16_019/0000760 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LM2018110 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000664505500014
    EID SCOPUS85106046926
    DOI10.37904/nanocon.2020.3701
    AnotaceWe compare two microwave (2.45 GHz) plasma systems with ellipsoidal and multimode clamshell cavity for diamond synthesis by chemical vapor deposition. We use H2/CH4/CO2 gas mixture for diamond film deposition on Si 100 wafers. Both systems are capable of high pressure (up to 20 kPa) operation and high growth rates (several µm/h). We compare the cavity systems from the point of diamond quality (Raman shift measurement), substrate size (2” versus 4”) and grown film homogeneity together with surface morphology (SEM), deposition rate and parasitic doping levels (photoluminescence).
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2022
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.