Multiwavelength digital holography for polishing tool shape measurement

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0499540
Název	Multiwavelength digital holography for polishing tool shape measurement
Tvůrce(i)	Doleček, Roman (UFP-V) [TOPTEC]_RID Lédl, Vít (UFP-V) [TOPTEC]_RID Psota, Pavel (UFP-V) [TOPTEC]_{RID, ORCID} Václavík, Jan (UFP-V) [TOPTEC]_RID Vojtíšek, Petr (UFP-V) [TOPTEC]_RID
Zdroj.dok.	Proceedings of SPIE. - Rochester : SPIE-int. soc. optical engineering, 2013 / Bentley J. L. ; Pfaff M.
Konference	Optifab 2013, 14.10.2013 - 17.10.2013, Rochester
Číslo článku	88840E
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	ED2.1.00/03.0079 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UFP-V - RVO:61389021
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	polishing * holographic interferometry * multiwavelength * contouring
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0291738

Počet záznamů: 1