Interferometric coordinates measurement sytem for local probe microscopy nanometrology

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0397860
Název	Interferometric coordinates measurement sytem for local probe microscopy nanometrology
Tvůrce(i)	Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Klepetek, P. (CZ) Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Holá, Miroslava (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Šerý, Mojmír (UPT-D)_{RID, SAI}
Zdroj.dok.	NANOCON 2013, 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE. - Ostrava : TANGER Ltd, 2014
Konference	NANOCON 2013. International Conference /5./, 16.10.2013-18.10.2013, Brno
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR
	FR-TI2/705 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	TA01010995 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	EE2.4.31.0016 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	Nanometrology * Interferometry * Traceability * Local probe microscopy * Nanopositioning
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0225471

Počet záznamů: 1