Počet záznamů: 1
Scanning low energy electron microscopy of doped silicon at units of eV
- 1.HOVORKA, M., MIKMEKOVÁ, Š., FRANK, L. Scanning low energy electron microscopy of doped silicon at units of eV. In: 6th International Workshop on LEEM/PEEM. Trieste: ELETTRA, 2008, s. 110. ISBN N.
Počet záznamů: 1