Počet záznamů: 1
Scanning electron microscopy with low energy electrons
- 1.
SYSNO 0205668 Název Scanning electron microscopy with low energy electrons Tvůrce(i) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID Zdroj.dok. Proceedings of the 9th Conference and Competition Student EEICT 2003 - Papers written by postgraduate students. s. 485 - 489 / Řezáč D. ; Zacios D.. - Brno : Brno University of Technology, 2003 Konference STUDENT EEICT 2003, Brno, 24.04.2003 Druh dok. Konferenční příspěvek (tuzemská konf.) Grant KJB2065301 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova scanning electron microscopy * critical energy * nonconductors Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0101281
Počet záznamů: 1