On the measurement of low energy backscattered and secondary electron coefficients
1.
SYSNO ASEP
0205085
Druh ASEP
C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV
D - Článek ve sborníku
Název
On the measurement of low energy backscattered and secondary electron coefficients
Tvůrce(i)
El Gomati, M. M. (GB) Assa'd, A. M. D. (GB) El Gomati, T. (LY) Zadražil, Martin (UPT-D)
Zdroj.dok.
Electron Microscopy and Analysis 1997 - Proceedings of the Institute of Physics Conference (Series Number 153, Section 7). - Bristol : Institute of Physics Publishing Ltd., 1997 / Rodenburg J. M.
- ISBN 0-7503-0441-3
Rozsah stran
s. 265-268
Poč.str.
4 s.
Akce
EMAG '97 - Electron Microscopy and Analysis Conference
Datum konání
02.09.1997-05.09.1997
Místo konání
Cambridge
Země
GB - Velká Británie
Jazyk dok.
eng - angličtina
Země vyd.
GB - Velká Británie
Vědní obor RIV
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Pracoviště
Ústav přístrojové techniky
Kontakt
Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru
1999
Počet záznamů: 1
Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom
jak používáme cookies.