The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0044288
Název	The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
Překlad názvu	Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM) v REM
Tvůrce(i)	Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Microscopy and Microanalysis. Roč. 12, Suppl. 2 (2006), s. 152-153. - : Cambridge University Press
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GA202/04/0281 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	SEM * low energy electrons * SLEEM
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0137111

Počet záznamů: 1