Počet záznamů: 1
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
- 1.
SYSNO ASEP 0044288 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM Překlad názvu Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM) v REM Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. - : Cambridge University Press - ISSN 1431-9276
Roč. 12, Suppl. 2 (2006), s. 152-153Poč.str. 2 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova SEM ; low energy electrons ; SLEEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA202/04/0281 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) DOI 10.1017/S1431927606063562 Anotace The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) mode, employing the cathode lens for retardation of the primary beam just in front of the sample surface, is presented together with results of selected demonstration experiments. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2007
Počet záznamů: 1