Počet záznamů: 1
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
- 1.Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 12, Suppl. 2 (2006), s. 152-153. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Impakt faktor: 2.108, rok: 2006
http://hdl.handle.net/11104/0137111
Počet záznamů: 1