Počet záznamů: 1
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
- 1.Frank, L., Müllerová, I. The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM. Microscopy and Microanalysis. 2006, 12(Suppl. 2), 152-153. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115. Dostupné z: doi: 10.1017/S1431927606063562
Počet záznamů: 1