Počet záznamů: 1
Direct LiF imaging diagnostics on refractive X-ray focusing at the EuXFEL High Energy Density instrument
- 1.
SYSNO 0582700 Název Direct LiF imaging diagnostics on refractive X-ray focusing at the EuXFEL High Energy Density instrument Tvůrce(i) Makarov, S. (RU)
Makita, M. (DE)
Nakatsutsumi, M. (DE)
Pikuz, T.A. (JP)
Ozaki, N. (JP)
Preston, T.R. (DE)
Appel, K. (DE)
Konopková, Z. (DE)
Cerantola, V. (IT)
Brambrink, E. (DE)
Schwinkendorf, J.P. (DE)
Mohacsi, I. (DE)
Burian, Tomáš (UFP-V) [LP] ORCID
Chalupský, J. (CZ)
Hájková, V. (CZ)
Juha, L. (CZ)
Vozda, V. (CZ)
Nagler, B. (US)
Zastrau, U. (DE)
Pikuz, S. (RU)
Yabashi, M. (JP)Zdroj.dok. Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 30, January (2023), s. 208-216. - : Oxford Blackwell Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA20-08452S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora UFP-V - RVO:61389021 Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova compound refractive lenses * focusing system * lithium fluoride (LiF) detector * X-ray beam characterization * X-ray focusing * X-ray free-electron lasers Spolupracující instituce Joint Institute for High Temperatures of the Russian Academy of Sciences (Rusko)
European XFEL GmbH (Německo)
Osaka University (Japonsko)
Università degli Studi di Milano-Bicocca (Itálie)
SLAC National Accelerator Laboratory (Spojené státy americké)
RIKEN SPring-8 Center (Japonsko)URL https://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?S1600577522006245 Trvalý link https://hdl.handle.net/11104/0350782
Počet záznamů: 1