Počet záznamů: 1
Prototyp optického prvku č. 1 s povrchovou úpravou
- 1.
SYSNO ASEP 0580361 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Poddruh RIV Funkční vzorek Název Prototyp optického prvku č. 1 s povrchovou úpravou Překlad názvu Prototype of optical element #1 with surface treatment Tvůrce(i) Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Souček, P. (CZ)Rok vydání 2023 Int.kód APL-2023-08 Technické parametry POLYETERETERKETON (PEEK) byl použit na výrobu optické části tubusu elektronového mikroskopu. Optický prvek byl vylepšen nanesením tenké kovové vrstvy (Al, Cr, W) pomocí magnetronového naprašování. Ekonomické parametry Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu slouží k výzkumným účelům. Funkční vzorek byl realizován pro konkrétní zařízení, a proto nedochází k přímému prodeji vzorku. Finanční vyčíslení případné prodejní ceny vychází z nákladů na vývoj, materiál, výrobu a přiměřený zisk. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, Ph.D., MBA, eliska@isibrno.cz. Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., Masarykova univerzita IČ vlastníka 68081731 Kat.výsl.dle nákl. A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč Požad. na licenč. popl. N - Poskytovatel licence nepožaduje licenční poplatek Jazyk dok. cze - čeština Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova optical elements ; PEEK ; SEM ; magnetron sputtering Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TN02000020 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Optická část používaná v tubusu elektronového mikroskopu byla vyrobena z PEEK materiálu. Pro vylepšení vlastností: eliminace absorpce uhlovodíků (kontaminace) a lepší vodivost, byla součástka pokryta tenkou mikrometrovou vrstvou kovu. Kovy (Al, Cr a W) byly naneseny technikou magnetronového naprašování a jejich struktura testována v elektronovém mikroskopu. Překlad anotace The optical part used in the tube of the electron microscope was made of PEEK material. To improve the properties: elimination of hydrocarbon absorption (contamination) and better conductivity, the component was covered with a thin micrometer layer of metal. The metals (Al, Cr and W) were deposited using a magnetron sputtering technique and their structure tested in an electron microscope. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2024
Počet záznamů: 1