Ultrafast infrared laser crystallization of amorphous Si/Ge multilayer structures

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0571963
Název	Ultrafast infrared laser crystallization of amorphous Si/Ge multilayer structures
Tvůrce(i)	Bulgakov, Alexander (FZU-D)_ORCID Beránek, Jiří (FZU-D) Volodin, V.A. (RU) Cheng, Y. (RU) Levy, Yoann (FZU-D) Nagisetty, S.S. (DE) Zukerstein, Martin (FZU-D)_ORCID Popov, A. A. (RU) Bulgakova, Nadezhda M. (FZU-D)_ORCID
Korespondující/senior	Bulgakova, Nadezhda M. - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Materials. Roč. 16, č. 9 (2023). - : MDPI
Číslo článku	3572
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_003/0000445, XE - země EU
	EF15_003/0000445 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CH
Klíč.slova	silicon–germanium multilayer structures * thin films * ultrashort infrared laser annealing * selective crystallization * defect accumulation * Raman spectroscopy
URL	https://hdl.handle.net/11104/0342818
Trvalý link	https://hdl.handle.net/11104/0342818

	Název souboru	Staženo	Velikost	Komentář	Verze	Přístup
	0571963.pdf	0	11.6 MB	CC licence	Vydavatelský postprint	povolen

Počet záznamů: 1