Počet záznamů: 1

Contamination mitigation strategy for SEMs

SYSNO ASEP	0571242
Druh ASEP	O - Ostatní výsledky
Zařazení RIV	O - Ostatní
Název	Contamination mitigation strategy for SEMs
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI} Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Rok vydání	2022
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	contamination ; low energy electron microscopy ; 2D crystals
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Obor OECD	Materials engineering
CEP	TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Müllerová, I., Materna-Mikmeková, E., Konvalina, I. Contamination mitigation strategy for SEMs. TN01000008/30-V003. 2022. Contamination in modern electron microscopy is at the forefront of interest and mainly concerns the deposition of a carbon based film on the surface from adsorbed hydrocarbons. The report deals with effects describing the growth/removal of contamination caused by electron irradiation and to describe in detail the influence of electron beam parameters on the balance between deposition and desorption processes.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2023

Počet záznamů: 1