Počet záznamů: 1
Comparison of GO and polymer microcapacitors prepared by ion beam writing
- 1.
SYSNO ASEP 0525636 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Comparison of GO and polymer microcapacitors prepared by ion beam writing Tvůrce(i) Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Romanenko, Oleksandr V. (UJF-V) ORCID, SAI
Havránek, Vladimír (UJF-V) RID, SAI, ORCID
Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
Stammers, James H. (UJF-V)
Cutroneo, Mariapompea (UJF-V) ORCID, RID, SAI
Novák, Josef (UJF-V) ORCID
Slepička, P. (CZ)
Švorčík, V. (CZ)
Szokolova, K. (CZ)
Bouša, D. (CZ)
Sofer, Z. (CZ)
Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 13 Zdroj.dok. Surface and Interface Analysis. - : Wiley - ISSN 0142-2421
Roč. 52, č. 12 (2020), s. 1171-1177Poč.str. 7 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova chemical properties ; graphene oxide ; ion beam writing ; microcapacitors ; PMMA Vědní obor RIV BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače Obor OECD Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect) CEP GA19-02482S GA ČR - Grantová agentura ČR LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora UJF-V - RVO:61389005 UT WOS 000544050300001 EID SCOPUS 85087206964 DOI https://doi.org/10.1002/sia.6851 Anotace Carbon beam writing was employed as a method for maskless production of microscale capacitors in both insulating graphene oxide (GO) and poly(methyl methacrylate) (PMMA) matrix. The GO and PMMA foils were irradiated using a 5-MeV C(3+)beam with micrometer scale resolution. As follows, the shape of the created microstructures and compositional changes was studied using the scanning electron microscopy/energy-dispersive X-ray spectroscopy method (SEM/EDS). The structural and compositional progression was characterized by Raman spectroscopy, Rutherford backscattering spectroscopy (RBS), and elastic recoil detection analysis (ERDA) spectroscopy. The improvement of the prepared structures' electrical properties was also studied, and it can be concluded that carbon irradiation leads to the removal of oxygen and hydrogen and to growth of the carbon domains, which is connected with the conductivity increase of the irradiated parts and capacitance of the final products in the order of pF. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2021 Elektronická adresa https://doi.org/10.1002/sia.6851
Počet záznamů: 1