Počet záznamů: 1
Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond XUV pulses below the single-shot ablation threshold
- 1.
SYSNO 0497873 Název Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond XUV pulses below the single-shot ablation threshold Tvůrce(i) Makhotkin, I.A. (NL)
Milov, I. (NL)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Tiedtke, K. (DE)
Enkisch, H. (DE)
de Vries, G. (NL)
Scholze, F. (DE)
Siewert, F. (DE)
Sturm, J.M. (NL)
Nikolaev, K. (NL)
van de Kruijs, R.W.E. (NL)
Smithers, M.A. (NL)
van Wolferen, H.A.G.M. (NL)
Keim, E.G. (NL)
Louis, E. (NL)
Jacyna, I. (PL)
Jurek, M. (PL)
Klinger, D. (PL)
Pelka, J. B. (PL)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Vozda, Vojtěch (FZU-D) ORCID
Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Saksl, Karel (FZU-D)
Faatz, B. (DE)
Keitel, B. (DE)
Ploenjes, E. (DE)
Schreiber, S. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Loch, R. (DE)
Hermann, M. (DE)
Strobel, S. (DE)
Donker, R. (NL)
Mey, T. (DE)
Sobierajski, R. (PL)Zdroj.dok. Journal of the Optical Society of America. B. Roč. 35, č. 11 (2018), s. 2799-2805. - : Optical Society of America Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA17-05167s GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika LG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA14-29772S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova interaction of femtosecond XUV pulses * single-shot ablation threshold * damage accumulation in thin ruthenium films Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0290344
Počet záznamů: 1