Inelastic mean free path from raw data measured by low-energy electrons time-of-flight spectrometer

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0494380
Název	Inelastic mean free path from raw data measured by low-energy electrons time-of-flight spectrometer
Tvůrce(i)	Zouhar, Martin (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI} Radlička, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Oral, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. S. 86-87. - Brno : Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018
Konference	Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, 04.06.2018 - 08.06.2018, Skalský dvůr
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	electron microscopy * time of flight * inelastic mean free path * low energy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0287642

Počet záznamů: 1