Počet záznamů: 1
Deformation of thin self-standing mask at inhomogeneous irradiation.
- 1.
SYSNO 0484974 Název Deformation of thin self-standing mask at inhomogeneous irradiation. Tvůrce(i) Koláček, Karel (UFP-V) [IPS] RID
Schmidt, Jiří (UFP-V) [IPS] RID
Frolov, Oleksandr (UFP-V) [IPS] RID
Štraus, Jaroslav (UFP-V) [IPS] RID
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Choukourov, A. (CZ)Zdroj.dok. Proceedings of the 3rd International Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications, 3rd IW FX & XUVOA. - Prague : Institute of Plasma Physics Czech Academy of Sciences, 2017 / Koláček K. ; Sobota J. Konference International Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications 2017, 3rd IW FX & XUVOA /3./, 04.10.2017, Prague - 06.10.2017 Číslo článku O-09 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant LG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UFP-V - RVO:61389021 ; FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova interaction of XUV radiation with solid surface * nanostructuring * nanopatterning * XUV diffraction Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0280109
Počet záznamů: 1