Počet záznamů: 1  

Deformation of thin self-standing mask at inhomogeneous irradiation.

  1. 1.
    SYSNO0484974
    NázevDeformation of thin self-standing mask at inhomogeneous irradiation.
    Tvůrce(i) Koláček, Karel (UFP-V) [IPS] RID
    Schmidt, Jiří (UFP-V) [IPS] RID
    Frolov, Oleksandr (UFP-V) [IPS] RID
    Štraus, Jaroslav (UFP-V) [IPS] RID
    Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
    Choukourov, A. (CZ)
    Zdroj.dok. Proceedings of the 3rd International Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications, 3rd IW FX & XUVOA. - Prague : Institute of Plasma Physics Czech Academy of Sciences, 2017 / Koláček K. ; Sobota J.
    Konference International Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications 2017, 3rd IW FX & XUVOA /3./, 04.10.2017, Prague - 06.10.2017
    Číslo článkuO-09
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grant LG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaUFP-V - RVO:61389021 ; FZU-D - RVO:68378271
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova interaction of XUV radiation with solid surface * nanostructuring * nanopatterning * XUV diffraction
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0280109
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.