Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0465206
Název	Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections
Tvůrce(i)	Skoupý, Radim (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Nebesářová, Jana (BC-A)_{RID, ORCID} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 926-927. - : Cambridge University Press
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GA14-20012S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731 ; BC-A - RVO:60077344
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	TEM * STEM * EFTEM
Spolupracující instituce	Biologické centrum AV ČR (Česká republika)
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0263873

Počet záznamů: 1