Počet záznamů: 1
Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections
- 1.Skoupý, Radim - Nebesářová, Jana - Krzyžánek, Vladislav
Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 926-927. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Impakt faktor: 1.891, rok: 2016
http://hdl.handle.net/11104/0263873
Počet záznamů: 1