Počet záznamů: 1
A scalable pathway to nanostructured sapphire optical fiber for evanescent-field sensing and beyond
- 1.
SYSNO ASEP 0457460 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název A scalable pathway to nanostructured sapphire optical fiber for evanescent-field sensing and beyond Tvůrce(i) Chen, H. (US)
Tian, F. (US)
Kaňka, Jiří (URE-Y)
Du, H. (US)Zdroj.dok. Applied Physics Letters. - : AIP Publishing - ISSN 0003-6951
Roč. 106, č. 11 (2015), s. 1111021-1111025Poč.str. 5 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova Aluminum coatings ; Nano-structured ; Silver nanoparticles Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP LH11038 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora URE-Y - RVO:67985882 UT WOS 000351595500002 EID SCOPUS 84925013835 DOI 10.1063/1.4915325 Anotace e here report an innovative and scalable strategy of transforming a commercial unclad sapphire optical fiber to an all-alumina nanostructured sapphire optical fiber (NSOF). The strategy entails fiber coating with metal aluminum followed by anodization to form alumina cladding of highly organized pore channel structure. Through experiments and numerical simulation, we demonstrate the utility and benefit of NSOF, analogous to all-silica microstructured optical fiber, for evanescent-field surface-enhanced Raman scattering (SERS) measurements. We experimentally reveal the feasibility of Ag nanoparticles (NPs)-enabled NSOF SERS sensing of 10(-6) M Rhodamine 6G (R6G) after thermal treatment at 500 degrees C for 6 h by taking advantage of porous anodic aluminum oxide (AAO) structure to stabilize the Ag NPs. We show, via numerical simulations, that AAO cladding significantly increases the evanescent-field overlap, lower porosity of AAO results in higher evanescent-field overlap, and optimized AAO nanostructure yields greater SERS enhancement Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2016
Počet záznamů: 1