Počet záznamů: 1  

In situ XPS characterization of diamond films after AR.sup.+./sup. cluster ion beam sputtering

  1. 1.
    Artemenko, Anna - Babchenko, Oleg - Kozak, Halyna - Ukraintsev, Egor - Ižák, Tibor - Romanyuk, Olexandr - Potocký, Štěpán - Kromka, Alexander
    In situ XPS characterization of diamond films after AR+ cluster ion beam sputtering.
    NANOCON 2015: 7th International Conference on Nanomaterials - Research and Application, Conference Proceedings. Ostrava: TANGER, spol. s r.o., 2015, s. 605-610. ISBN 978-80-87294-63-5.
    [NANOCON 2015. International Conference /7./. Brno (CZ), 14.10.2015-16.10.2015]
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    http://hdl.handle.net/11104/0253621
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.